臨界尺寸測量系統
看到和衡量不可能的事情

無論對超高精度測量有什麼要求,VIEW都有理想的解決方案。 VIEW 非接觸式測量系統利用具有視場 (FOV) 或點對點 (PTP) 配置的亞像素圖像特徵檢測,以實現卓越的精度和可重複性。從硬盤驅動器 (HDD) 磁頭上的蝕刻尺寸到半導體覆蓋測量,我們為您提供高質量製造所需的精度。

連接器測量

光纖互連組件的計量解決方案 

測量大型多引線陣列中每個引線的真實位置和間距 

快速獲取有關連接器位置、尺寸、間距和共面性測量的數據 

Electronic Assembly Calibration & Monitoring

相對於焊盤的定位和旋轉(X、Y 和 Theta)的測量
測量球、工具標記直徑、放置、焊盤對齊和線環高度

臨界尺寸測量系統

硬盤驅動器組件計量

將 Pinnacle 的性能提升到一個新的水平
大行程、高精度尺寸測量系統
提供卓越的線寬和重疊測量能力
提供卓越的線寬和重疊測量能力
大行程、高精度尺寸測量系統

臨界尺寸測量系統

Mobile Phone, Tablet & Wearable Assembly

以多倍放大率對扇出晶圓級封裝進行準確高效的非接觸式檢測

多功能照明、大尺寸舞台、高分辨率定位 

共面性、引線寬度、間距、焊球直徑、封裝高度和翹曲檢查 

PCB檢測

關鍵特徵的測量,例如引線、焊盤和翹曲的位置

新工藝開發的關鍵高度和體積測量

靈活快速測量各種孔徑尺寸、形狀和位置

Photolithography & MEMs Fabrication

VIEW 系統分析測量窗口內的像素並構建圓的徑向強度分佈

孔口直徑/位置測量精度 < 10 nm 

彎曲、手指、梳子、圓弧、圓直徑和中心位置的節距、寬度和間距的測量 

靈活快速測量各種孔徑尺寸、形狀和位置

臨界尺寸測量系統

臨界尺寸測量系統

精密微磨

計量系統高分辨率載物台運動、優質光學、自動對焦功能
電氣測試探針的檢查需要精密計量能力來準確測量小特徵

極高水平的三維精度計量系統 

用於手錶組件過程控制和檢查的計量應用

臨界尺寸測量系統

臨界尺寸測量系統

定制工程

特定應用的夾具、編程、第三方傳感器和設備的接口

與 VMS 集成到檢查過程中 

臨界尺寸測量系統

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VMS® 和 Elements® 軟件

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