중요한 치수 측정 시스템
불가능한 것을 보고 측정하기

광학 계측 애플리케이션
어떤 제품이 가장 적합한지 잘 모르시겠습니까?
초정밀 측정에 대한 요구 사항이 무엇이든 VIEW는 이상적인 솔루션을 제공합니다. VIEW 비접촉 측정 시스템은 FOV(field-of-view) 또는 PTP(point-to-point) 구성으로 하위 픽셀 이미지 기능 감지를 활용하여 탁월한 정확도와 반복성을 제공합니다. 하드 디스크 드라이브(HDD) 헤드의 에칭 치수에서 반도체 오버레이 측정에 이르기까지 고품질 제조에 필요한 정확도를 제공합니다.

커넥터 측정

광섬유 인터커넥트 구성요소를 위한 계측 솔루션 

대형 다중 리드 어레이 내에서 각 리드의 실제 위치 및 피치 측정 

커넥터 위치, 크기, 피치 및 동일 평면도 측정에 대한 데이터를 빠르게 수집 

전자 어셈블리 교정 및 모니터링

패드를 기준으로 위치 지정 및 회전(X, Y 및 Theta) 측정
측정 볼, 툴링 마크 직경, 배치, 패드 정렬 및 와이어 루프 높이

중요한 치수 측정 시스템

하드 디스크 드라이브 구성 요소 계측

Pinnacle의 성능을 한 차원 높여줍니다.
큰 이동거리, 고정도 치수 측정 시스템
탁월한 선폭 및 오버레이 측정 기능 제공
탁월한 선폭 및 오버레이 측정 기능 제공
큰 이동거리, 고정도 치수 측정 시스템

중요한 치수 측정 시스템

휴대전화, 태블릿 및 웨어러블 어셈블리

다양한 배율로 팬아웃 웨이퍼 레벨 패키징의 정확하고 효율적인 비접촉 검사

다목적 조명, 대형 무대, 고해상도 포지셔닝 

동일 평면도, 리드 너비, 피치, 볼 직경, 패키지 높이 및 뒤틀림 검사 

PCB 검사

리드, 패드 및 뒤틀림의 위치와 같은 중요한 기능 측정

새로운 공정 개발에 중요한 높이 및 부피 측정

다양한 조리개 크기, 모양 및 위치를 신속하게 측정할 수 있는 유연성

포토리소그래피 및 MEMS 제작

VIEW 시스템은 측정 창 내의 픽셀을 분석하고 원의 방사형 강도 프로파일을 작성합니다.

10 nm 미만의 오리피스 직경/위치 측정 정확도 

굴곡, 핑거, 빗, 호, 원 지름 및 중심 위치의 피치, 너비 및 간격 측정 

다양한 조리개 크기, 모양 및 위치를 신속하게 측정할 수 있는 유연성

중요한 치수 측정 시스템

중요한 치수 측정 시스템

정밀 마이크로 그라인딩

계측 시스템 고해상도 스테이지 모션, 고품질 광학, 자동 초점 기능
전기 테스트 프로브 검사에는 작은 기능을 정확하게 측정하기 위한 정밀 계측 기능이 필요합니다.

매우 높은 수준의 3차원 정확도 계측 시스템 

시계 부품의 공정 제어 및 검사를 위한 계측 애플리케이션

중요한 치수 측정 시스템

중요한 치수 측정 시스템

맞춤형 엔지니어링

애플리케이션별 고정 장치, 프로그래밍, 타사 센서 및 장비에 대한 인터페이스

VMS를 사용한 검사 프로세스에 통합 

중요한 치수 측정 시스템

부품에 대한 애플리케이션 연구

를 위해 비용 없음 고성능 치수 측정 시스템 응용 연구

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애플리케이션

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VMS® 및 Elements® 소프트웨어

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전체 제품 라인 보기

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