Accurate and Efficient Non-Contact Inspection in a Broad Range of Implementations

VIEW 시스템 응용 범위
어떤 제품이 가장 적합한지 잘 모르시겠습니까?

VIEW metrology solutions measure critical dimensions in a wide variety of applications involving 2D micro-components and assemblies.  Compared to “walk up and measure” routines, VIEW systems are designed for continuous operation in automated production environments, with speeds that often help metrology teams achieve 100% inspection.

Photolithography & MEMs Fabrication

VIEW 시스템은 측정 창 내의 픽셀을 분석하고 원의 방사형 강도 프로파일을 작성합니다.

10 nm 미만의 오리피스 직경/위치 측정 정확도 

굴곡, 핑거, 빗, 호, 원 지름 및 중심 위치의 피치, 너비 및 간격 측정 

다양한 조리개 크기, 모양 및 위치를 신속하게 측정할 수 있는 유연성

불가능한 관찰과 측정을 가능케하는

불가능한 관찰과 측정을 가능케하는

Electronic Assembly Calibration & Monitoring

광섬유 인터커넥트 구성요소를 위한 계측 솔루션 

대형 다중 리드 어레이 내에서 각 리드의 실제 위치 및 피치 측정 

커넥터 위치, 크기, 피치 및 동일 평면도 측정에 대한 데이터를 빠르게 수집 

커넥터 치수측정

패드를 기준으로 위치 지정 및 회전(X, Y 및 Theta) 측정
측정 볼, 툴링 마크 직경, 배치, 패드 정렬 및 와이어 루프 높이

불가능한 관찰과 측정을 가능케하는

Mobile Phone, Tablet & Wearable Assembly

다양한 배율로 팬아웃 웨이퍼 레벨 패키징의 정확하고 효율적인 비접촉 검사

다목적 조명, 대형 무대, 고해상도 포지셔닝 

동일 평면도, 리드 너비, 피치, 볼 직경, 패키지 높이 및 뒤틀림 검사 

PCB 검사

리드, 패드 및 뒤틀림의 위치와 같은 중요한 기능 측정

새로운 공정 개발에 중요한 높이 및 부피 측정

다양한 조리개 크기, 모양 및 위치를 신속하게 측정할 수 있는 유연성

HDD 주요 부품 치수측정

높은 생산성을 겸비한 고정밀도 대형 측정기
선 폭(CD) 및 오버레이 자동 측정 현미경
선 폭(CD) 및 오버레이 자동 측정 현미경
높은 생산성을 겸비한 고정밀도 대형 측정기

불가능한 관찰과 측정을 가능케하는

PRECISION MICRO-GRINDING

계측 시스템 고해상도 스테이지 모션, 고품질 광학, 자동 초점 기능
전기 테스트 프로브 검사에는 작은 기능을 정확하게 측정하기 위한 정밀 계측 기능이 필요합니다.

매우 높은 수준의 3차원 정확도 계측 시스템 

시계 부품의 공정 제어 및 검사를 위한 계측 애플리케이션

불가능한 관찰과 측정을 가능케하는

불가능한 관찰과 측정을 가능케하는

맞춤형 엔지니어링

애플리케이션별 고정 장치, 프로그래밍, 타사 센서 및 장비에 대한 인터페이스

VMS를 사용한 검사 프로세스에 통합 

불가능한 관찰과 측정을 가능케하는

Ask us about a high-performance VIEW measurement system application study

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VMS® 및 Elements® 소프트웨어

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전체 제품 라인 보기

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