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VIEW 為晶圓、光掩模、滑塊、MEMS、半導體封裝、HDD 懸架、探針卡和微元件過程測量提供全系列的光學計量系統。設計用於測量具有復雜尺寸和高密度特徵的零件和組件。它們包括最先進的 QVI 技術，可實現高精度、可重複性和吞吐量。無論對超高精度測量有什麼要求，VIEW都有理想的解決方案。

VIEW 非接觸式測量系統利用具有視場 (FOV) 或點對點 (PTP) 配置的亞像素圖像特徵檢測，以實現卓越的精度和可重複性。從硬盤驅動器 (HDD) 磁頭上的蝕刻尺寸到半導體覆蓋測量，我們為您提供高質量製造所需的精度。