Micro Metrology Platforms, Measurement Software, and Unique Tools for Productivity

VIEW offers a full line of optical metrology systems and software for wafer, photomask, slider, MEMS, semiconductor package, HDD suspension, probe card, and micro-component process measurements.  Designed for measurement of parts and assemblies with complex dimensions and a high density of features, VIEW solutions utilize the most advanced QVI technologies for high accuracy, repeatability, and throughput.

用於晶圓、光掩模、滑塊、MEMS、半導體封裝、硬盤驅動器懸架、探針卡和微元件系統的全系列計量系統。
計量系統的效用差異很大,這主要是軟件的功能。 View 的軟件為生產力、自動化、集成和定制提供了獨特的功能。

設計用於測量具有復雜尺寸和特徵的零件和組件。

無論對超高精度測量有什麼要求,VIEW都有理想的解決方案。

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