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關鍵尺寸測量系統觀察和測量不可能的事情

VIEW 為晶圓、光掩模、滑塊、MEMS、半導體封裝、HDD 懸架、探針卡和微元件過程測量提供全系列的光學計量系統。設計用於測量具有復雜尺寸和高密度特徵的零件和組件。它們包括最先進的 QVI 技術，可實現高精度、可重複性和吞吐量。無論對超高精度測量有什麼要求，VIEW都有理想的解決方案。

VIEW 非接觸式測量系統利用具有視場 (FOV) 或點對點 (PTP) 配置的亞像素圖像特徵檢測，以實現卓越的精度和可重複性。從硬盤驅動器 (HDD) 磁頭上的蝕刻尺寸到半導體覆蓋測量，我們為您提供高質量製造所需的精度。

計量系統

用於晶圓、光掩模、滑塊、MEMS、半導體封裝、硬盤驅動器懸架、探針卡和微元件系統的全系列計量系統。

軟件

計量系統的效用差異很大，這主要是軟件的功能。 View 的軟件為生產力、自動化、集成和定制提供了獨特的功能。

技術

設計用於測量具有復雜尺寸和特徵的零件和組件。

應用

無論對超高精度測量有什麼要求，VIEW都有理想的解決方案。

對您的零件進行的應用研究

為一個免費高性能尺寸測量系統應用研究