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微量測平台、量測軟體和獨特的生產力工具

VIEW提供全系列的光學量測系統和軟體，適用於晶圓、光罩、滑軌、微機電、半導體封裝、硬碟懸吊、探針卡和微組件製程量測。 VIEW 解決方案專為量測具有複雜尺寸和高密度特徵的零件和組件而設計，採用最先進的 QVI 技術，可達到高準確度、可重複性和產量。.

MICRO 度量衡系統
用於晶圓、光掩模、滑塊、MEMS、半導體封裝、硬盤驅動器懸架、探針卡和微元件系統的全系列計量系統。
計量軟體
計量 軟件
計量系統的效用差異很大，這主要是軟件的功能。 View 的軟件為生產力、自動化、集成和定制提供了獨特的功能。
專利技術
專利技術

設計用於測量具有復雜尺寸和特徵的零件和組件。

多樣化的應用
多樣化應用
無論對超高精度測量有什麼要求，VIEW都有理想的解決方案。

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VMS® 和 Elements® 軟件

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