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關鍵技術

臨界尺寸測量系統成像和測量不可能的
光學計量系統
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VIEW 系統設計用於測量具有復雜尺寸和高密度特徵的零件和組件。它們包括最先進的 QVI 技術，可實現高精度、可重複性和吞吐量。
機械設計 |光學 |傳感器集成 |軟件

區域多焦點成像 (AMF)
使用視頻並將其轉換為 3D 圖像的高級視頻分析技術
連續圖像捕捉 (CiC)
獨家 CiC 技術，可映射大面積，拼接在一起
數碼百萬像素相機
屬性檢查應用程序，現在可以進行真彩色處理
焦點網格測量

將網格線投影到零件表面以確定最佳焦點 

照度測量

可以對每個測量進行編程以最好地照亮感興趣的特徵

集成激光選項

支持多種激光傳感器進行高度/深度和表面輪廓測量 

機械設計

提供結構完整性、熱穩定性和隔振的堅固平台 

MicroTheta 旋轉

檢查零件的一個表面，然後檢查零件的另一個表面 

光學

選擇最適合手頭測量應用的光學系統 

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VMS® 和 Elements® 軟件

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