应用

无论对超高精度测量有什么要求，VIEW都有理想的解决方案。 VIEW 非接触式测量系统利用具有视场 (FOV) 或点对点 (PTP) 配置的亚像素图像特征检测，以实现卓越的精度和可重复性。从硬盘驱动器 (HDD) 磁头上的蚀刻尺寸到半导体覆盖测量，我们为您提供高质量制造所需的精度。

光纤

光纤互连组件的计量解决方案 

连接器

测量大型多引线阵列中每个引线的真实位置和间距 

PCB 连接器计量

快速获取有关连接器位置、尺寸、间距和共面性测量的数据 

元件放置验证

相对于焊盘的定位和旋转（X、Y 和 Theta）的测量

引线键合非接触式计量

测量球、工具标记直径、放置、焊盘对齐和线环高度

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关键尺寸测量系统

硬盘磁头 (HDD) 蚀刻尺寸

将 Pinnacle 的性能提升到一个新的水平

云台组件 (HGA) 检查

大行程、高精度尺寸测量系统

读/写磁头检查

提供卓越的线宽和重叠测量能力

滑块检查操作

提供卓越的线宽和重叠测量能力

悬挂（弯曲）检查

大行程、高精度尺寸测量系统

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关键尺寸测量系统

扇出晶圆级封装

以多倍放大率对扇出晶圆级封装进行准确高效的非接触式检测

柔性电路

多功能照明、大尺寸平台、高分辨率定位 

QFP 和 BGA 检测

共面性、引线宽度、间距、焊球直径、封装高度和翘曲检查 

PCB-原图。和裸板

关键特征的测量，例如引线、焊盘和翘曲的位置

焊膏计量

新工艺开发的关键高度和体积测量

钢网工艺控制

灵活快速测量各种孔径尺寸、形状和位置

场发射器显示孔测量

VIEW 系统分析测量窗口内的像素并构建圆的径向强度分布

喷墨喷嘴测量

孔口直径/位置测量精度 < 10 nm 

微机电系统

弯曲、手指、梳子、圆弧、圆直径和中心位置的节距、宽度和间距的测量 

晶圆级检测

灵活快速测量各种孔径尺寸、形状和位置

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关键尺寸测量系统

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关键尺寸测量系统

喷油器组件

计量系统高分辨率载物台运动、优质光学、自动对焦功能

电气测试探针

电气测试探针的检查需要精密计量能力来准确测量小特征

立铣刀刀具

极高水平的三维精度计量系统 

手表组件

用于手表组件过程控制和检查的计量应用

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关键尺寸测量系统

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关键尺寸测量系统

定制工程

特定应用的夹具、编程、第三方传感器和设备的接口

光学字符识别

与 VMS 集成到检查过程中 

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