临界尺寸测量系统
看到和衡量不可能的事情

无论对超高精度测量有什么要求,VIEW都有理想的解决方案。 VIEW 非接触式测量系统利用具有视场 (FOV) 或点对点 (PTP) 配置的亚像素图像特征检测,以实现卓越的精度和可重复性。从硬盘驱动器 (HDD) 磁头上的蚀刻尺寸到半导体覆盖测量,我们为您提供高质量制造所需的精度。

连接器测量

光纤互连组件的计量解决方案 

测量大型多引线阵列中每个引线的真实位置和间距 

快速获取有关连接器位置、尺寸、间距和共面性测量的数据 

电子组件校准和监控

相对于焊盘的定位和旋转(X、Y 和 Theta)的测量
测量球、工具标记直径、放置、焊盘对齐和线环高度

临界尺寸测量系统

硬盘驱动器组件计量

将 Pinnacle 的性能提升到一个新的水平
大行程、高精度尺寸测量系统
提供卓越的线宽和重叠测量能力
提供卓越的线宽和重叠测量能力
大行程、高精度尺寸测量系统

临界尺寸测量系统

手机、平板电脑和可穿戴组件

以多倍放大率对扇出晶圆级封装进行准确高效的非接触式检测

多功能照明、大尺寸舞台、高分辨率定位 

共面性、引线宽度、间距、焊球直径、封装高度和翘曲检查 

PCB检测

关键特征的测量,例如引线、焊盘和翘曲的位置

新工艺开发的关键高度和体积测量

灵活快速测量各种孔径尺寸、形状和位置

光刻和 MEMS 制造

VIEW 系统分析测量窗口内的像素并构建圆的径向强度分布

孔口直径/位置测量精度 < 10 nm 

弯曲、手指、梳子、圆弧、圆直径和中心位置的节距、宽度和间距的测量 

灵活快速测量各种孔径尺寸、形状和位置

临界尺寸测量系统

临界尺寸测量系统

精密微磨

计量系统高分辨率载物台运动、优质光学、自动对焦功能
电气测试探针的检查需要精密计量能力来准确测量小特征

极高水平的三维精度计量系统 

用于手表组件过程控制和检查的计量应用

临界尺寸测量系统

临界尺寸测量系统

定制工程

特定应用的夹具、编程、第三方传感器和设备的接口

与 VMS 集成到检查过程中 

临界尺寸测量系统

对您的零件进行的应用研究

为一个 免费 高性能尺寸测量系统应用研究

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VMS® 和 Elements® 软件

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查看完整的产品线

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