Hệ thống đo lường

Hệ thống đo lường kích thước quan trọng Nhìn thấy và đo lường những điều không thể

Hệ thống đo lường quang học

Bạn không chắc sản phẩm nào phù hợp nhất?

VIEW cung cấp đầy đủ các hệ thống đo lường quang học cho wafer, photomask, slider, MEMS, gói bán dẫn, hệ thống treo HDD, thẻ thăm dò và các phép đo quy trình vi thành phần.

Benchmark 250

Hệ thống đo kích thước nhỏ gọn, độ chính xác cao

Benchmark 300

Hệ thống đo lường quang học mô hình tầng hiệu suất cao

Benchmark 450

Giá trị đặc biệt trong hệ thống đo lường kích thước có độ chính xác cao

Benchmark XLT

Hệ thống đo lường kích thước cực lớn

Pinnacle 250

Hệ thống đo lường kích thước thông lượng cao, độ chính xác cao

Pinnacle Plus

Nâng cao hiệu suất Đỉnh cao lên cấp độ tiếp theo

Summit 600/625/800

Hệ thống đo lường kích thước có độ chính xác cao, hành trình lớn

MicroLine AF

Cung cấp khả năng đo lường lớp phủ và độ rộng đường truyền vượt trội

MicroLine AF Plus

Cung cấp khả năng đo lường lớp phủ và độ rộng đường truyền vượt trội

Nghiên cứu ứng dụng được thực hiện trên các bộ phận của bạn

Cho một KHÔNG CHI PHÍ nghiên cứu ứng dụng hệ thống đo lường chiều hiệu suất cao