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VIEW 为晶圆、微机电系统、光掩模、滑块、半导体封装、扇出、硬盘悬挂、探针卡、线键合及其他微型元件过程测量提供全系列光学计量系统。.

Summit 600/625/800

大面积、高精度尺寸测量系统。 高速线性马达驱动，单倍或双倍放大固定透镜光学系统。适用于测量印刷电路板、模板、平板显示器、蚀刻片和掩模图案等大面积零件，以及嵌套的较小零件组。.

Pinnacle 250

高吞吐量、高精度尺寸测量系统，采用高速线性电机驱动和单倍或双倍放大固定镜头光学系统。 专为从无尘室到工厂车间等生产环境中的大批量操作而设计

Pinnacle Plus

超高精度尺寸测量系统，采用高速线性电机驱动、单倍率固定光学镜组和高性能 Z 轴运动组件。 专为从无尘室到工厂车间等生产环境中的大批量操作而设计。.

Benchmark 250

高精度台式尺寸测量系统。 直流伺服电机平台驱动和单倍或双倍放大固定镜头光学系统。.

Benchmark 450

高精度平面模型尺寸测量系统。 直流伺服电机平台驱动和单倍或双倍放大固定镜头光学系统。.

Apex Precis
Precis

超高精度关键尺寸测量系统。 将线性电机驱动器的 XYZ 精确度与超高倍率光学系统相结合。设计用于测量晶片、掩膜、微机电系统和其他微加工部件。.

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