不可能を可能にする画像測定機

VIEWは、ウェーハ、フォトマスク、スライダー、MEMS、半導体パッケージ、HDDサスペンション、プローブカード、およびマイクロコンポーネントプロセス測定用の光学計測システムのフルラインを提供します。

大移動、高精度の寸法測定システム
高スループット、高精度の次元計測システム
ピナクルのパフォーマンスを次のレベルに引き上げます

コンパクトで高精度な寸法測定システム 

高精度の寸法測定システムにおける並外れた価値 

Ultra High Accuracy Critical Dimension Metrology System
卓越した線幅とオーバーレイ測定機能を提供します
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VMS®およびElements®ソフトウェア

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