區域多焦點

什麼是 AMF™ 區域多焦點？

AMF 是一種使用機器光學技術創建高分辨率 3D 圖像的技術。該技術的工作原理類似於自動對焦，但 AMF 不是尋找單個 XYZ 點，而是創建完整的 3D 圖像。下面是區域多焦點如何工作的圖形。在 Z pass 期間拍攝多張圖像，並對圖像進行聚焦分析。從每張圖像中獲取最清晰的部分並將其放在一起以創建 3D 圖像。

什麼時候應該使用？

什麼時候應該使用？ AMF 為單點聚焦或激光錶面掃描提供了一種高通量替代方案。 AMF 最常見的用途是測量適合單個視場 (FOV) 的特徵的多個 Z 高度。使用 AMF，可以在進行單次自動對焦所需的時間內收集所有 Z 高度。

請參閱下面的示例，其中包含 FOV 中的多個高度特徵。單個 AMF 可生成測量要素高度所需的所有 Z 數據。 VMS 利用圖像處理工具進行特徵分割、特徵提取和高度計算。

VMS 中的特徵分割是通過首先將 3D 數據集顯示為 2D 灰度高度圖，然後使用標準 2D 工具定義感興趣的特徵區域 (AOI) 來完成的。當傳統的邊緣查找不足時，此技術還可用於定位特徵。這一切都是使用單個區域多焦點在幾秒鐘內完成的。

下面是之前 3D 數據集的 2D 高度圖，帶有顯示 AOI 所在位置的 blob finder 結果。然後分別提取和處理每個 AOI 的數據以確定每個 AOI 的高度。

其他用途

AMF 用於真正的 3D 測量，例如平面角或球面半徑。 AMF 可用於代替接觸式探頭或激光來對高對比度表面進行這些測量。 AMF 在一次通過中獲取數千個點的能力使其能夠比其他類型的傳感器更快地進行某些 3D 測量。以下是使用 AMF 測量的絲錐示例。可以在一次通過中測量大部分絲錐，並且可以根據該圖像計算出齒角和齒距。只需幾秒鐘，就可以使用 AMF 收集有關此類零件的大量信息。 

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