区域多焦点

什么是 AMF™ 区域多焦点？

AMF 是一种使用机器光学技术创建高分辨率 3D 图像的技术。该技术的工作原理类似于自动对焦，但 AMF 不是寻找单个 XYZ 点，而是创建完整的 3D 图像。下面是区域多焦点如何工作的图形。在 Z pass 期间拍摄多张图像，并对图像进行聚焦分析。从每张图像中获取最清晰的部分并将其放在一起以创建 3D 图像。

什么时候应该使用？

什么时候应该使用？ AMF 为单点聚焦或激光表面扫描提供了一种高通量替代方案。 AMF 最常见的用途是测量适合单个视场 (FOV) 的特征的多个 Z 高度。使用 AMF，可以在进行单次自动对焦所需的时间内收集所有 Z 高度。

请参阅下面的示例，其中包含 FOV 中的多个高度特征。单个 AMF 可生成测量要素高度所需的所有 Z 数据。 VMS 利用图像处理工具进行特征分割、特征提取和高度计算。

VMS 中的特征分割是通过首先将 3D 数据集显示为 2D 灰度高度图，然后使用标准 2D 工具定义感兴趣的特征区域 (AOI) 来完成的。当传统的边缘查找不足时，此技术还可用于定位特征。这一切都是使用单个区域多焦点在几秒钟内完成的。

下面是之前 3D 数据集的 2D 高度图，带有显示 AOI 所在位置的 blob finder 结果。然后分别提取和处理每个 AOI 的数据以确定每个 AOI 的高度。

其他用途

AMF 用于真正的 3D 测量，例如平面角或球面半径。 AMF 可用于代替接触式探头或激光来对高对比度表面进行这些测量。 AMF 在一次通过中获取数千个点的能力使其能够比其他类型的传感器更快地进行某些 3D 测量。以下是使用 AMF 测量的丝锥示例。可以在一次通过中测量大部分丝锥，并且可以根据该图像计算出齿角和齿距。只需几秒钟，就可以使用 AMF 收集有关此类零件的大量信息。 

可以在我们的网站上找到正在运行的此应用程序的简短视频 YouTube 页面。