エリアマルチフォーカス

AMF™エリアマルチフォーカスとは何ですか？

AMFは、機械光学系を使用して高解像度の3D画像を作成するテクノロジーです。このテクノロジーはオートフォーカスのように機能しますが、単一のXYZポイントを見つけるのではなく、AMFが3D画像全体を作成します。以下は、エリアマルチフォーカスがどのように機能するかの図です。 Zパス中に複数の画像が撮影され、画像の焦点が分析されます。最も焦点が合っているセクションは、各画像から取得され、3D画像を作成するためにまとめられます。

いつ使用する必要がありますか？

いつ使用する必要がありますか？ AMFは、シングルポイントフォーカスまたはレーザー表面スキャンに代わるハイスループットの代替手段を提供します。 AMFの最も一般的な使用法は、単一の視野（FOV）に収まるフィーチャの複数のZ高さを測定することです。 AMFを使用すると、単一のオートフォーカスを実行するのにかかる時間ですべてのZ高さを収集できます。

FOVの高さの複数の機能を備えた以下の例を参照してください。単一のAMFは、フィーチャの高さを測定するために必要なすべてのZデータを生成します。 VMSは、画像処理ツールを使用して、特徴のセグメンテーション、特徴の抽出、および高さの計算を行います。

VMSでのフィーチャのセグメンテーションは、最初に3Dデータセットを2Dグレースケールの高さマップとして表示し、次に標準の2Dツールを使用して対象のフィーチャ領域（AOI）を定義することによって実現されます。この手法は、従来のエッジ検出では不十分な場合にフィーチャを見つけるのにも役立ちます。これはすべて、単一のエリアマルチフォーカスを使用して数秒で実行されます。

以下は、以前の3Dデータセットの2D高さマップであり、AOIが配置されていることを示すブロブファインダーの結果が含まれています。次に、各AOIのデータが抽出され、個別に処理されて、それぞれの高さが決定されます。

その他の用途

AMFは、平面角度や球面半径などの真の3D測定に使用されます。タッチプローブまたはレーザーの代わりにAMFを使用して、高コントラストの表面のこれらの測定を行うことができます。 1回のパスで数千ポイントを取得するAMFの機能により、他のタイプのセンサーよりもはるかに高速に特定の3D測定を行うことができます。以下は、AMFを使用して測定されたスクリュータップの例です。タップの大部分を1回のパスで測定でき、その画像から歯の角度とピッチを計算できます。ほんの数秒で、AMFを使用してこのような部品に関する豊富な情報を収集できます。 

実行中のこのアプリケーションの短いビデオは、 YouTubeページ。