면적단위 다중 포커스

AMF™ 영역 다중 초점이란 무엇입니까?

AMF는 기계 광학을 사용하여 고해상도 3D 이미지를 생성하는 기술입니다. 이 기술은 자동 초점처럼 작동하지만 단일 XYZ 지점을 찾는 대신 AMF가 전체 3D 이미지를 생성합니다. 아래는 영역 다중 초점이 작동하는 방식에 대한 그래픽입니다. Z 패스 동안 여러 이미지를 촬영하고 초점을 위해 이미지를 분석합니다. 각 이미지에서 가장 초점이 잘 맞는 부분을 가져와 함께 결합하여 3D 이미지를 만듭니다.

언제 사용해야 합니까?

언제 사용해야 합니까? AMF는 단일 포인트 초점 또는 레이저 표면 스캐닝에 대한 높은 처리량 대안을 제공합니다. AMF의 가장 일반적인 용도는 단일 시야(FOV)에 맞는 형상에 대해 여러 Z 높이를 측정하는 것입니다. AMF를 사용하면 단일 자동 초점을 수행하는 데 걸리는 시간으로 모든 Z 높이를 수집할 수 있습니다.

FOV에서 높이의 여러 기능이 있는 떨어져 있는 아래의 예를 참조하십시오. 단일 AMF는 피처의 높이를 측정하는 데 필요한 모든 Z 데이터를 생성합니다. VMS는 특징 분할, 특징 추출 및 높이 계산을 위해 이미지 처리 도구를 활용합니다.

VMS의 기능 분할은 먼저 3D 데이터 세트를 2D 그레이스케일 높이 맵으로 표시한 다음 표준 2D 도구를 사용하여 AOI(기능 영역 관심 영역)를 정의하여 수행됩니다. 이 기술은 기존의 에지 찾기가 불충분할 때 피처를 찾는 데에도 유용할 수 있습니다. 이 모든 작업은 단일 Area Multi Focus를 사용하여 몇 초 안에 완료됩니다.

아래는 AOI가 위치하는 것을 보여주는 얼룩 찾기 결과가 있는 이전 3D 데이터 세트의 2D 높이 맵입니다. 그런 다음 각 AOI에 대한 데이터를 추출하고 별도로 처리하여 각각의 높이를 결정합니다.

기타 용도

AMF는 평면 각도 또는 구면 반경과 같은 진정한 3D 측정에 사용됩니다. AMF는 터치 프로브 또는 레이저 대신 사용하여 고대비 표면에 대한 이러한 측정을 수행할 수 있습니다. AMF는 한 번의 통과로 수천 개의 포인트를 측정할 수 있어 다른 유형의 센서보다 훨씬 빠르게 특정 3D 측정을 수행할 수 있습니다. 다음은 AMF를 사용하여 측정한 나사 탭의 예입니다. 탭의 많은 부분을 단일 패스로 측정할 수 있으며 이 이미지에서 톱니 각도와 피치를 계산할 수 있습니다. 단 몇 초 만에 AMF를 사용하여 이와 같은 부분에 대한 풍부한 정보를 수집할 수 있습니다. 

이 응용 프로그램이 실행되는 짧은 비디오는 다음에서 찾을 수 있습니다. 유튜브 페이지.