关键尺寸测量系统 观察和测量不可能的事情

VIEW 为晶圆、光掩模、滑块、MEMS、半导体封装、HDD 悬架、探针卡和微元件过程测量提供全系列的光学计量系统。设计用于测量具有复杂尺寸和高密度特征的零件和组件。它们包括最先进的 QVI 技术,可实现高精度、可重复性和吞吐量。无论对超高精度测量有什么要求,VIEW都有理想的解决方案。

VIEW 非接触式测量系统利用具有视场 (FOV) 或点对点 (PTP) 配置的亚像素图像特征检测,以实现卓越的精度和可重复性。从硬盘驱动器 (HDD) 磁头上的蚀刻尺寸到半导体覆盖测量,我们为您提供高质量制造所需的精度。

用于晶圆、光掩模、滑块、MEMS、半导体封装、硬盘驱动器悬架、探针卡和微元件系统的全系列计量系统。
计量系统的效用差异很大,这主要是软件的功能。 View 的软件为生产力、自动化、集成和定制提供了独特的功能。

设计用于测量具有复杂尺寸和特征的零件和组件。

无论对超高精度测量有什么要求,VIEW都有理想的解决方案。

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