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关键尺寸测量系统观察和测量不可能的事情

VIEW 为晶圆、光掩模、滑块、MEMS、半导体封装、HDD 悬架、探针卡和微元件过程测量提供全系列的光学计量系统。设计用于测量具有复杂尺寸和高密度特征的零件和组件。它们包括最先进的 QVI 技术，可实现高精度、可重复性和吞吐量。无论对超高精度测量有什么要求，VIEW都有理想的解决方案。

VIEW 非接触式测量系统利用具有视场 (FOV) 或点对点 (PTP) 配置的亚像素图像特征检测，以实现卓越的精度和可重复性。从硬盘驱动器 (HDD) 磁头上的蚀刻尺寸到半导体覆盖测量，我们为您提供高质量制造所需的精度。