临界尺寸测量系统成像和测量不可能的

VIEW 系统设计用于测量具有复杂尺寸和高密度特征的零件和组件。它们包括最先进的 QVI 技术,可实现高精度、可重复性和吞吐量。
机械设计 |光学 |传感器集成 |软件

使用视频并将其转换为 3D 图像的高级视频分析技术
独家 CiC 技术,可映射大面积,拼接在一起
属性检查应用程序,现在可以进行真彩色处理

将网格线投影到零件表面以确定最佳焦点 

可以对每个测量进行编程以最好地照亮感兴趣的特征

支持多种激光传感器进行高度/深度和表面轮廓测量 

提供结构完整性、热稳定性和隔振的坚固平台 

检查零件的一个表面,然后检查零件的另一个表面 

选择最适合手头测量应用的光学系统 

对您的零件进行的应用研究

为一个 免费 高性能尺寸测量系统应用研究

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