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关键技术

临界尺寸测量系统成像和测量不可能的
光学计量系统
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VIEW 系统设计用于测量具有复杂尺寸和高密度特征的零件和组件。它们包括最先进的 QVI 技术，可实现高精度、可重复性和吞吐量。
机械设计 |光学 |传感器集成 |软件

区域多焦点成像 (AMF)
使用视频并将其转换为 3D 图像的高级视频分析技术
连续图像捕捉 (CiC)
独家 CiC 技术，可映射大面积，拼接在一起
数码百万像素相机
属性检查应用程序，现在可以进行真彩色处理
栅格聚焦测量

将网格线投影到零件表面以确定最佳焦点 

照度测量

可以对每个测量进行编程以最好地照亮感兴趣的特征

集成激光选项

支持多种激光传感器进行高度/深度和表面轮廓测量 

机械设计

提供结构完整性、热稳定性和隔振的坚固平台 

MicroTheta 旋转

检查零件的一个表面，然后检查零件的另一个表面 

光学

选择最适合手头测量应用的光学系统 

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VMS® 和 Elements® 软件

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查看完整的产品线

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