VIEW 专业生产适合过程控制测量应用的高精度影像三坐标测量系统。我们提供两种系列的高精度测量系统：用于满足广泛的高要求工业应用测量需求的高速度、高精度三 坐标测量系统，以及用于测量半导体和 MEMS 晶片、硬盘磁头滑块和光刻掩膜版的显微测量系统。