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高精度测量系统
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VIEW VIEW 专业的影像过程要求:三坐标测量系统的应用范围。提供一系列系统测量测量系统的广泛适用性的高工业测量系统,适用于高速度、生产多种应用的三坐标,以及半导体、半导体半导体、液晶显示器和微光膜的显示系统。
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技术创新发端于1979年
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+86 136-0307-4946
rex@tiance-optial.com
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