高 生产率 测量 系统
CHÀO MỪNG CÁC BẠN ĐẾN XEM
XEM 专业 生产 适合 过程 控制 测量 应用 的 高精度 影像 三坐标 测量 系统。 我们 提供 两种 系列 的 高精度 ： 用于 用于 满足 高 要求 工业 应用 测量 高精度 三 用于 工业 应用 测量 的 高速度以及 用于 测量 半导体 和 MEMS 晶片 、 硬盘 磁头 滑块 和 光刻 掩膜 版 的 显微 测量 系统。
为什么 选择 XEM？
- 高性能 影像 三坐标 测量 技术
- 高精度 、 高速度 和 高度 灵活 的 系统
- 针对 您 的 应用 提供 整套 解决 方案
- 适合 近 线 (Gần dòng) 过程 控制
- 我们 的 应用 工程师 拥有 丰富 的 微 制造 测量 领域 专业 经验
- 技术 创新 发端 于 1979 年
- 隶属于 全球 最大 的 可视 测量 公司 Tầm nhìn Chất lượng Quốc tế 旗下
了解 我们 的 产品 系列 ：系统
Liên hệ VIEW Micro-Metrology
Đối với các dịch vụ khẩn cấp hoặc các dịch vụ bảo trì và hiệu chuẩn phòng ngừa, vui lòng liên hệ với chúng tôi.
Trung Quốc - Thiết bị quang học Tiance
Liên hệ: Rex Zhang
