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Pinnacle 250
높은 생산성을 겸비한 고정밀도 측정기.
Pinnacle 250은 VIEW 라인업 중 가장 높은 정확도와 가장 빠른 측정 속도를 제공합니다. 고성능과 컴팩트한 설치 공간으로 인해 VIEW의 가장 인기 있는 모델입니다.
Pinnacle은 수동적인 진동 차단 기능이 있는 감쇠 화강암 베이스와 컬럼이 특징입니다. 고속 리니어 모터 드라이브 가 탑재된 정밀 복합 X-Y 스테이지는 400mm/sec의 속도와 1000mm/sec2의 가속도를 제공합니다. 이러한 높은 가속도와 높은 속도의 조합은 생산 공정 프로세스 모니터링에 필요한 높은 생산성 요구를 충족시킵니다. Pinnacle의 견고하고 컴팩트한 디자인은 QA 랩이나 제조 라인의 검사 스테이션에 설치하기에 적합합니다.
기준
선택 과목
XYZ 여행
250 x 150 x 100mm
적재 능력
25kg
이미징 광학
VIEW 1X 백 튜브 및 VIEW 2.5X 대물 렌즈가 있는 단일 배율, 고정 렌즈 광학
VIEW 2.5X 대물 렌즈가 있는 이중 배율 고정 렌즈 광학 장치. 선택적 대물 렌즈: 0.8X, 1 X, 5.0X, 10X 및 25X
계측 카메라
표준: 2.0메가픽셀(1628 x 1236), 디지털, 흑백
색상 및 기타 카메라 구성을 선택적으로 사용할 수 있습니다.
조명 장치
표준: 동축 렌즈를 통한 표면 조명, 무대 아래 백라이트 및 전동 입사각 제어 기능이 있는 다색 링 조명을 위한 프로그래밍 가능한 LED 조명 시스템
그리드 자동 초점 시스템
센서 옵션
TTL(Through-the-Lens) 레이저
Rainbow Probe ™ 축외 백색광 범위 센서
측정 모드
고속 이동 및 측정(MAM)
연속 이미지 캡처(CIC)
특징
Pinnacle 250은 소형이면서 타이트한 공차를 갖는 부품, 특히 HDD 서스펜션, 프린터 헤드, 정밀 스탬핑, 리드프레임, BGA, CSP 와 같은 고밀도 형상이 집적되어 있는 부품의 측정에 이상적입니다.
Pinnacle 250은 빠른 Z축 측정을 위해 옵션으로 Laser를 장착할 수 있습니다. 아울러 나노미터 수준의 Z축 측정 분해능을 제공하는 SpectraProbe™ 옵션을 활용할 수 있습니다.
Pinnacle 모델은 VIEW시스템의 기본인 VMS 소프트웨어가 탑재되며 필요에 따라 옵션 소프트웨어와 연동하여 사용됩니다.
- VIEW 계측 소프트웨어(VMS™) 다양한 표준 측정 도구와 맞춤형 기능을 지원하는 내장 스크립팅 언어를 제공합니다.
- Elements® 전자 측정 소프트웨어 측정 프로그램에서 2D CAD 파일의 자동 변환을 제공하여 가장 복잡한 부품에 대해서도 측정 루틴을 매우 빠르게 설정할 수 있습니다.
