VIEW 지원
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독점 기술

가장 까다로운 측정 과제를 위한 고유한 측정 도구

광학 측정 시스템
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VIEW 비접촉 측정 시스템은 정밀 고정 광학, 서브 픽셀 에지 감지, 고해상도 스케일을 활용하여 포인트 투 포인트 및 시야 범위 내에서 매우 정확하고 반복 가능한 측정을 수행합니다. 독점적인 독점 기술은 QA 팀이 어려운 측정 상황과 생산 병목 현상을 극복할 수 있도록 기능을 더욱 향상시킵니다.

면적 단위 다중 초점 이미징 (AMF)
비디오 이미지를 3D image로 변환하는 진보된 비디오 분석 기술
연속 이미지 측정 (CIC)
독점적인 CiC 기술로 넓은 표면적 범위 mapping 및 스티칭 가능
디지털 MEGAPIXEL 카메라
Inspection 기능을 위한 Color 이미지 처리 지원 가능
그리드 포커스 측정

최적의 포커스를 검출하기 위한 선 그리드 투영 측정 기술 

다양한 조명 장치 제공

매 측정 시 관심 영역 내의 최적 조명 프로그래밍 제공

통합 LASER 옵션

높이 / 깊이 및 표면 Profile 측정을 위한 다양한 레이저 센서 지원 

기계적 디자인

강력한 설비 플랫폼으로 열과 진동으로부터 설비를 보호하여 구조적 무결성 제공 

정밀 각도 ROTARY TABLE

제품의 한 표면 측정 후 회전하여 다른 표면 측정 가능 

광학

제품 측정에 가장 적합한 광학 시스템 선택 

고성능 VIEW 측정 시스템 응용 프로그램 연구에 대해 문의하세요.

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VMS® 및 Elements® 소프트웨어

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전체 제품 라인 보기

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