VIEW는 웨이퍼, 포토마스크, HDD 슬라이더, 서스펜션, MEMS, 반도체 패키지, 프로브 카드 및 마이크로 부품 제조 공정 측정을 위한 비접촉 3차원측정기로서 다양한 장비 라인업을 갖추고 있습니다. 복잡한 치수와 고집적 형상들이 있는 부품 및 어셈블리의 측정을 위해 설계되었습니다. 여기에는 높은 정확도, 반복성 및 생산성 위한 가장 진보된 QVI 기술이 포함됩니다. 초정밀 측정에 대한 요구 사항이 무엇이든 VIEW 시스템은 이상적인 솔루션을 제공합니다.
VIEW 비접촉 3차원측정기는 탁월한 서브 픽셀링 기술을 활용하여 FOV(카메라시야) 내의 형상은 물론 FOV를 벗어난 형상과 형상 간의 치수 측정에 대해 우수한 정밀도와 반복성을 제공합니다. HDD 헤드의 까다로운 에칭 치수에서부터 반도체 오버레이 측정에 이르기까지 고품질 제조에 필요한 정확도를 제공합니다.