CRT Monitor Shadowmasks

ขั้นตอนการตรวจสอบสำหรับ Shadowmasks ที่ใช้ใน CRT ที่มีความละเอียดสูงในปัจจุบันทำให้เกิดความท้าทายด้านมาตรวิทยาที่ยากลำบาก เนื่องจากจำเป็นต้องทำการวัดที่แม่นยำมากของคุณสมบัติต่างๆ สำหรับรูรับแสงของหน้ากากแต่ละอัน ในขณะที่ยังคงรักษาความสม่ำเสมอในพื้นที่พิกัดที่ค่อนข้างใหญ่ซึ่งแสดงถึงพื้นที่หน้าจอทั้งหมด 

ตำแหน่งที่แน่นอน ขนาด และระยะห่างต่ำสุด/สูงสุดระหว่างคุณลักษณะแต่ละรายการและกลุ่มของคุณลักษณะในหน้ากากมีความสำคัญอย่างยิ่งต่อการบรรลุความคมชัดและความเที่ยงตรงของสีที่สม่ำเสมอทั่วทั้งพื้นที่แสดงผลใน CRT ที่เสร็จสิ้นแล้ว ในการรับมือกับความท้าทายเหล่านี้ ระบบมาตรวิทยาจะต้องสามารถรักษาความเที่ยงตรงที่มีความละเอียดสูงและการสอบเทียบที่เข้มงวดสำหรับโต๊ะขนาดใหญ่ ในขณะที่ยังให้ประสิทธิภาพการเดินทางบนเวทีที่มีความเร็วสูงเพื่อรักษาปริมาณงานที่ยอมรับได้

 รอบเวลาการวัดที่รวดเร็ว การจดจำภาพที่ซับซ้อน ความสามารถในการให้แสงที่ยืดหยุ่น และฟังก์ชันโฟกัสอัตโนมัติ/กริดโฟกัส ก็มีความสำคัญอย่างยิ่งต่อการตรวจสอบการควบคุมกระบวนการ Shadowmask ในระยะใกล้ที่มีประสิทธิภาพ