VIEW 系統提供最適合手頭測量應用的光學系統選擇。 VIEW Benchmark、Pinnacle 和 Summit 系統可以配置單倍放大固定鏡頭光學系統或獨特的雙倍放大光學系統。這兩種佈置都提供光學可互換的前物鏡,以允許放大倍率和視場尺寸與被測量的特徵相匹配。
單倍放大系統很簡單,其光學分辨率與配備標準物鏡的 2.0 兆像素數碼相機的像素尺寸非常匹配。該系統非常適合具有許多相似特徵的零件的高速測量,對於這些零件,單次放大就足夠了。
雙倍放大系統利用兩條完整的光路,每條光路都有自己的相機。高倍率路徑是低倍率的 4 倍,提供瞬時變焦能力以獲得更高的光學分辨率。該系統非常適合測量不同特徵需要寬視場和高精度的零件。雙倍放大系統也是需要最佳自動對焦性能的應用的理想選擇。
兩種系統都可以與幾種相機型號(單色或彩色)中的一種搭配使用,這些型號將像素大小和密度與配置的鏡頭系統的光學分辨率相匹配。可用的光學和相機配置範圍允許 VIEW 為手頭的應用優化系統。
VIEW MicroLine 用於微加工零件測量的系統使用配置有水平照明器、多物鏡轉台和適當選擇的明場或明場/暗場物鏡的半導體檢測顯微鏡。 MicroLine 系統有多種光學和相機配置可用,具體取決於要測量的零件的性質。