連續圖像捕捉 (CIC)

當零件在系統光學器件下方連續移動時，CiC™ 測量會拍攝零件圖像的“快照”。 VIEW 獨有的 CiC 技術可以繪製大面積的地圖，將單個圖像拼接在一起，以便將它們作為一個整體進行分析。根據所測量的零件幾何形狀，循環時間會顯著減少，而不會影響測量性能。