连续图像捕捉 (CIC)

当零件在系统光学器件下方连续移动时，CiC™ 测量会拍摄零件图像的“快照”。 VIEW 独有的 CiC 技术可以绘制大面积的地图，将单个图像拼接在一起，以便将它们作为一个整体进行分析。根据所测量的零件几何形状，循环时间会显着减少，而不会影响测量性能。