Tiếng Việt 
English 
简体中文 
繁體中文 
한국어 
ไทย 
日本語 
Quang học
Hệ thống VIEW cung cấp sự lựa chọn hệ thống quang học để phù hợp nhất với ứng dụng đo lường hiện tại. XEM các hệ thống Điểm chuẩn, Đỉnh cao và Đỉnh cao có thể được định cấu hình với Hệ thống Quang học Ống kính Cố định Độ phóng đại Đơn hoặc Hệ thống Quang học Độ Phóng đại Kép độc đáo. Cả hai cách sắp xếp này đều cung cấp vật kính quang học có thể hoán đổi cho nhau để cho phép độ phóng đại và kích thước trường xem phù hợp với các tính năng được đo.
Hệ thống phóng đại đơn đơn giản và cung cấp độ phân giải quang học phù hợp với kích thước pixel của máy ảnh kỹ thuật số 2.0 megapixel với các vật kính tiêu chuẩn. Hệ thống này lý tưởng để đo tốc độ cao đối với các bộ phận có nhiều tính năng tương tự, chỉ cần một độ phóng đại duy nhất là đủ.
Hệ thống phóng đại kép sử dụng hai đường dẫn quang học tích hợp, mỗi đường dẫn có camera riêng. Đường dẫn phóng đại cao là bội số 4X của độ phóng đại thấp, cung cấp khả năng thu phóng tức thời để có độ phân giải quang học cao hơn. Hệ thống này lý tưởng để đo lường các bộ phận mong muốn có cả trường nhìn rộng và độ chính xác cao cho các tính năng khác nhau. Hệ thống phóng đại kép cũng lý tưởng cho các ứng dụng yêu cầu hiệu suất lấy nét tự động tốt nhất.
Cả hai hệ thống có thể được ghép nối với một trong một số kiểu máy ảnh –monochrome hoặc màu - phù hợp với kích thước và mật độ pixel với độ phân giải quang học của hệ thống ống kính đã định cấu hình. Phạm vi cấu hình quang học và máy ảnh có sẵn cho phép VIEW tối ưu hóa hệ thống cho ứng dụng trong tầm tay.
XEM Hệ thống MicroLine để đo bộ phận được chế tạo bằng vi mô sử dụng kính hiển vi kiểm tra bán dẫn được cấu hình với đèn chiếu sáng ngang, tháp ống kính đa tiêu và lựa chọn phù hợp các vật kính Trường sáng hoặc Trường sáng / Trường tối. Có nhiều cấu hình quang học và máy ảnh có sẵn cho hệ thống MicroLine, tùy thuộc vào bản chất của các bộ phận cần đo.
HỖ TRỢ
Để biết trạng thái hỗ trợ hệ thống, vui lòng tham khảo:
