영역 다중 초점(AMF)

3D 표면 측정

AMF™은 일반 Auto-Focus 단계에서 수집된 데이터를 이용하여 3D 이미지로 변환하는 고급 비디오 분석 기술입니다. 3D 정보 뿐만 아니라 단일 이미지 안에서 여러 형상의 높이나 깊이를 한번에 측정할 수 있습니다. 이 기능은 평탄도 및 거칠기, 높이 및 부피 측정 시 사용할 수 있으며, XY 스테이지 모션이 필요한 어떠한 스캐닝 방식보다 빠른 측정을 제공합니다.

이 기술은 VIEW의 비디오 측정 방식에 대한 최첨단 기술 발전의 대표적 사례입니다.

이러한 측정 시스템은 고성능 자동 조첨과 자율성 높은 프로그래밍을 바탕으로 한 정확하고 정밀한 측정 기능이 결합되어야 합니다.

제품지원
info@viewmm.com

시스템의 지원 여부를 확인하려면 제품 지원 매트릭스를 참조하십시오.

제품 지원 메트릭스

고객사 샘플에 대한 애플리케이션 연구

를 위해 비용 없음 VIEW 시스템을 이용한 애플리케이션 연구는 무상으로 지원합니다.

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VMS® 및 Elements® 소프트웨어

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전체 제품 라인 보기

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