WAFER 검사

오늘날의 반도체 설계가 계속해서 소형화되고 고밀도화됨에 따라 웨이퍼 검사의 문제는 지속적으로 확대되고 있습니다. 매우 작은 형상의 크기 측정을 위해 초고해상도 Pixel 정확도 및 반복성을 위한 Auto-Focus 기능과 함께 50X 이상의 대물 렌즈 배율 그리고 고도로 프로그래밍 가능한 표면 반사 조명 및 배후 조명이 필요할 수 있습니다.
제품지원
info@viewmm.com

시스템의 지원 여부를 확인하려면 제품 지원 매트릭스를 참조하십시오.

제품 지원 메트릭스

고객사 샘플에 대한 애플리케이션 연구

를 위해 비용 없음 VIEW 시스템을 이용한 애플리케이션 연구는 무상으로 지원합니다.

관심 가져주셔서 감사합니다.

WAFER 검사

이 파일을 볼 수 있도록 몇 가지 정보를 제공하도록 요청합니다.
[dlm_gf_form download_id="2111" gf_ajax="true"]
관심 가져주셔서 감사합니다.

WAFER 검사

이 파일을 볼 수 있도록 몇 가지 정보를 제공하도록 요청합니다.
[dlm_gf_form download_id="2115" gf_ajax="true"]
관심 가져주셔서 감사합니다.

WAFER 검사

이 파일을 볼 수 있도록 몇 가지 정보를 제공하도록 요청합니다.
[dlm_gf_form download_id="2114" gf_ajax="true"]
관심 가져주셔서 감사합니다.

WAFER 검사

이 파일을 볼 수 있도록 몇 가지 정보를 제공하도록 요청합니다.
[dlm_gf_form download_id="2113" gf_ajax="true"]
관심 가져주셔서 감사합니다.

WAFER 검사

이 파일을 볼 수 있도록 몇 가지 정보를 제공하도록 요청합니다.
[dlm_gf_form download_id="2116" gf_ajax="true"]
관심 가져주셔서 감사합니다.

WAFER 검사

이 파일을 볼 수 있도록 몇 가지 정보를 제공하도록 요청합니다.
[dlm_gf_form download_id="2118" gf_ajax="true"]
관심 가져주셔서 감사합니다.

VMS® 및 Elements® 소프트웨어

이 파일을 볼 수 있도록 몇 가지 정보를 제공하도록 요청합니다.
[dlm_gf_form download_id="2109" gf_ajax="true"]
관심 가져주셔서 감사합니다.

전체 제품 라인 보기

이 파일을 볼 수 있도록 몇 가지 정보를 제공하도록 요청합니다.
[dlm_gf_form download_id="2110" gf_ajax="true"]
관심 가져주셔서 감사합니다.

WAFER 검사

이 파일을 볼 수 있도록 몇 가지 정보를 제공하도록 요청합니다.
[dlm_gf_form download_id="2117" gf_ajax="true"]
관심 가져주셔서 감사합니다.

WAFER 검사

이 파일을 볼 수 있도록 몇 가지 정보를 제공하도록 요청합니다.
[dlm_gf_form download_id="2042" gf_ajax="true"]

이 웹사이트는 귀하가 당사 웹사이트에서 최상의 경험을 얻을 수 있도록 쿠키를 사용합니다. 이 사이트를 계속 사용하면 쿠키 사용에 동의하는 것입니다. 더 알아보기.