連続画像キャプチャ（CIC）

CiC™測定では、部品がシステム光学系の下を継続的に移動するため、部品画像の「スナップショット」が取得されます。 VIEW独自のCiC技術により、大きな表面積をマッピングし、個々の画像をつなぎ合わせて、全体として分析することができます。測定する部品の形状によっては、測定性能を損なうことなくサイクルタイムを大幅に短縮できます。