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連続画像キャプチャ（CIC）

概要
製品サポート
資料
CiC™測定では、部品がシステム光学系の下を継続的に移動するため、部品画像の「スナップショット」が取得されます。 VIEW独自のCiC技術により、大きな表面積をマッピングし、個々の画像をつなぎ合わせて、全体として分析することができます。測定する部品の形状によっては、測定性能を損なうことなくサイクルタイムを大幅に短縮できます。
サポート
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資産
VIEW Micro-Metrology
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VMSと要素
VMS®およびElements®ソフトウェア
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[dlm_gf_form download_id = "2111" gf_ajax = "true"]
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[dlm_gf_form download_id = "2114" gf_ajax = "true"]
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[dlm_gf_form download_id = "2113" gf_ajax = "true"]
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[dlm_gf_form download_id = "2116" gf_ajax = "true"]
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[dlm_gf_form download_id = "2118" gf_ajax = "true"]
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[dlm_gf_form download_id = "2109" gf_ajax = "true"]
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[dlm_gf_form download_id = "2110" gf_ajax = "true"]
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[dlm_gf_form download_id = "2117" gf_ajax = "true"]
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[dlm_gf_form download_id = "2042" gf_ajax = "true"]