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オープンしました! VIEW Micro Metrology Center of Excellence.

クオリティ・ビジョン・インターナショナル社は、ニューヨーク州ロチェスターの本社にVIEWマイクロ計測センター・オブ・エクセレンス(COE)を開設した。.

ビュー・マイクロ・メトロロジー社は、主に半導体およびエレクトロニクスの大量生産業界に向けた統合生産測定ソリューションを提供しています。 利用可能なソリューションには、非接触光学計測システムのフルラインが含まれます。これらの2.5Dビデオ計測システムは、高精度固定光学系、サブピクセルエッジ検出、高解像度スケールを利用し、ポイントツーポイントおよび視野内の両方で極めて正確で再現性の高い測定を実現します。 多用途のソフトウェアパッケージにより、スピードと精度の両方を実現し、高スループットアプリケーションの要求を満たします。.

VIEW Micro Metrologyが提供する製品は、主にターンキーソリューションであり、設計、実装、試運転、完全な生産統合のサポートに密接に関与する必要があります。 シンガポールを拠点とするVIEW ASIAは、ウエハー、フォトマスク、半導体パッケージング、MEMS、HDDサスペンション、プローブカードなど、多様なハイテク・アプリケーションですでに大きな成功を収めています。.

ニューヨーク州にVIEW Micro Metrology COEが設立されたことで、北米と欧州で半導体製造が増加する中、これらの要求の厳しいアプリケーションに対するより良いサポートが可能になります。COEの主な使命は、タイムリーかつローカルな計測サポートを提供し、生産環境における計測ソリューションの統合を推進することで、半導体業界のファーストチョイスとなることである。 VIEWマイクロ計測COEは、アプリケーションスタディやソフトウェアトレーニングのためのVIEW計測システムを備えた空調管理されたラボと、顧客や業界関係者を受け入れるための専用ミーティングスペースを誇ります。 また、お客様や業界関係者をお迎えする専用のミーティングスペースもご用意しております。.

訪問を申し込む または1.855.767.8439までお電話ください。.

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