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スライダー検査は、計測の観点から困難な課題を提示する重要なデータストレージ製造プロセスです。スライダーの検査では、公差の厳しい比較的小さなフィーチャーサイズの取得と測定が必要ですが、大量の生産量に対して高いスループットを提供するには、短いサイクルタイムも必要です。
機能の一部または欠落は、費用のかかる障害や、完成したドライブアセンブリの削り取りまたはやり直しにつながる可能性があります。さらに、一部のスライダー検査操作では本質的に低コントラストの背景が、一貫した高スループット測定のために高度な照明および/またはレンズ貫通レーザー技術を必要とする場合があります。
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