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光学計測システム

重要な寸法測定のために、VIEWは、ウェーハ、フォトマスク、スライダー、MEMS、半導体パッケージ、HDDサスペンション、プローブカード、およびマイクロコンポーネントプロセス測定用の光学計測システムのフルラインを提供します。

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VMS®およびElements®ソフトウェア

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