ブースにお越しください
APR
22-23
Microelectronics US
Palmer Events Center, Austin, TX
月
12-13
iMAPS New England Symposium & Expo
Crowne Plaza Hotel, Woburn, Massachusetts
月
26-29
ECTC 2026
JW Marriott & The Ritz-Carlton Grande Lakes Resort, Orlando, Florida
Arizona Optical Metrology
Computer Generated Holograms (CGH)
High-Precision High-Throughput
Measurement Solutions
半導体、民生用電子機器、医療機器、その他の産業向けマイクロ計測システム
業務内容には、ウェハおよびMEMS製造、チップテスト、アセンブリおよびパッケージング（IDM、OSAT、ファンアウトウェハレベルパッケージング）、フォトマスク、ワイヤボンディング、PCB、ハードディスクドライブ、モバイルデバイス、薬物送達システム（埋め込み型、経皮型、皮内型）、その他の2D、 非接触アプリケーションVIEW Micro Metrology システムは、極めて厳しい公差を持つコンポーネントを製造プロセスに沿って迅速かつ正確に測定するために作られています。
24時間365日対応のインライン生産計測
VIEWは、重要な寸法測定向けに、光学計測システム、計測ソフトウェア、カスタムアプリケーションサービスのフルラインナップを提供しています。VIEWシステムは、高速測定を必要とする高スループット生産ラインへの統合に優れています。多くの場合、100%検査が可能です。
カスタム測定アプリケーション
VIEWシステムは、2つの汎用性の高い計測ソフトウェアパッケージを搭載しており、高度にカスタマイズされたエッジ検出機能とエリア処理機能をプログラムできます。これらの機能は、自動計測、特徴解析、欠陥検出に最適です。エリアマルチフォーカスや連続画像キャプチャ（ストロボ）といった独自のツールに加え、強力なパラメトリックおよびCADベースのプログラミングツールにより、生産性を飛躍的に向上させる柔軟性を提供します。
VIEW VISION NEWS
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計測技術に関する最も重要なニュース、開発、最新情報、そして洞察に満ちたハウツーやヒントをお届けします。計測システムのハードウェア、ソフトウェア、 ユニークなアプリケーション、技術的なトピックなど。
パンフレットとデータシート
技術データシートと情報。
